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2026-07-01 11:25 / 时尚 / 探索 / 娱乐 /

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  • 万代南梦宫日前公布了《超级机器人大战T》的全新官方宣传片。

    首先是本作中新加入的原创角色,男性角色是Tokitou Saizou(草尾毅配音),女性角色是Sakurai Sagiri(庄司宇芽香配音)以及Amasaki Rami (加隈亚衣配音),三名角色都是由Nisieda设计,他们都是设计了新型VTX原型机Tiraneed的公司的雇员。

    第二部视频展示了另外一些主要角色和机体。作品包括《星际牛仔》《魔法骑士雷阿斯》《乐园追放》《我青春的世外桃源无限轨道SSX》。

    《超级机器人大战T》将于3月20日登陆日本地区PS4/Switch平台。

    " alt="《超级机器人大战T》宣传片 多个原创角色公开">
  • 青绿薹草
  • 2013年世界棒球經典賽D組參賽名單
  • 2013年世界棒球經典賽C組參賽名單
  • 发行商史克威尔和开发商Dontnod娱乐工作室日前为《奇异人生2》第二章公布了发行宣传片,这次视频名为“规则”,这一章将于1月24日推出。

    史克威尔关于第二章的剧情介绍:

    “肖恩和丹尼尔的故事将在第二章里继续进行,为了逃避西雅图事件后警方的追查以及超自然能力的出现,两人继续在冬日里外出冒险。不过丹尼尔在寒冷天下病情加重,肖恩决定他们需要冒险前往奶奶家进一步休养和寻求庇护。

    在这里他们遇到了邻家男孩克里斯,他也拥有与丹尼尔类似的能力,另外他们还遇到了自己的超级英雄意识体:超能队长。随后丹尼尔和克里斯很快成了朋友。不过肖恩为了保护他们的安全制定了一系列针对其能力的规则:不在公共场合使用,不谈论它以及规避危机。

    丹尼尔能否成功地掩藏自己的秘密?探索潜藏能力的诱惑是否会难以抑制?他在关键时候会打破规则吗?”

    《奇异人生2》目前已经登陆PS4/Xbox One/PC平台。

    " alt="《奇异人生2》第二章宣传片公布 1月24日上线">
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  • 國民 (消歧義)
  • 華社三大支柱
  • 随着半导体制程向先进节点演进,3D 晶体管架构与多层互连堆叠技术的规模化应用,使得器件缺陷的隐蔽性与检测难度显著提升。传统光学检测技术已难以满足电学相关缺陷的识别需求,而电子束检测的效率瓶颈又制约了量产应用。DirectScan检测通过核心技术创新破解了这一行业痛点,为下一代半导体制造提供了高效、精准的检测解决方案。


    本文将从技术原理、核心优势、应用场景及落地实践等方面,对该技术进行系统性解析。


    一、先进工艺节点的检测挑战与技术缺口


    当前半导体制造技术正经历关键变革:鳍式场效应晶体管逐步被全环绕栅极(GAA)纳米带晶体管替代,中段制程(MOL)因多重图形化技术的应用,堆叠复杂度持续增加。这一变革导致致命缺陷多隐匿于 3D 结构内部,传统光学检测手段难以有效识别。


    同时,先进工艺节点的缺陷呈现显著的产品特异性,集中分布于特定工艺 - 版图组合的 “热点区域”,此类缺陷由芯片设计固有的版图特征引发,成为影响良率的核心因素。


    行业面临的核心矛盾在于:电子束电压衬度检测是识别电学缺陷的关键技术,但传统电子束检测采用光栅扫描模式,效率远低于光学检测,无法匹配大批量生产的需求。DirectScan 技术的出现,为破解这一矛盾提供了可行路径。


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    二、DirectScan 核心技术架构:PointScan 的创新逻辑


    DirectScan 检测方案由eProbe 电子束检测工具、FIRE GDS 版图分析平台及Exensio 大数据智能分析平台三大核心组件构成,其技术突破的核心在于PointScan 扫描技术对传统电子束检测逻辑的重构,主要体现在以下三方面:


    1

    设计感知驱动的靶向检测

    传统电子束检测采用无差别光栅扫描,需覆盖包括介质区域在内的全部区域,且无法识别被测目标的图形特征;PointScan 技术具备非接触式电学测试特性,可精准跳转至目标器件的关键位置(如焊盘、接触点),仅对有效检测区域实施电压衬度检测,完全规避介质区域的无效扫描,实现 “按需检测”。

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    2

    检测效率的量级提升

    通过 FIRE 平台的精细化版图分析,可精准筛选出需检测的 “关键区域”,大幅缩减检测范围:

    后段制程金属 3 层通孔检测:仅需扫描总可检测面积的 2.5%

    中段制程栅极 - 漏极短路检测:仅需扫描总接触点的 1%

    栅极残筋检测:可规避 50%-75% 的介质区域,检测面积缩减至传统方案的 10% 以下


    基于上述优化,PointScan 技术的检测吞吐量可达传统单束电子束检测设备的 20-100 倍,每小时可完成数十亿个被测器件的扫描。


    3

    设计感知学习与属性分析能力

    DirectScan 与 FIRE 平台的深度整合,可实现跨多层版图的属性提取,包括触点类型(漏极 / 栅极)、晶体管阈值电压、极性、与扩散区隔离槽的距离等关键参数。


    eProbe 输出的 KLARF格式数据含专属属性识别码,可与版图特征精准匹配,工程师可直接计算特定属性或属性组合对应的缺陷率,快速定位高风险晶体管类型与版图设计方案,为工艺优化提供数据支撑。


    三、高难度场景的应用突破


    PointScan 技术的低电荷沉积特性,使其在传统电子束检测难以覆盖的场景中实现突破:


    背侧供电网络(BSPDN)晶圆检测


    键合晶圆形成的绝缘层会阻碍电荷传导,导致传统电子束检测出现电荷累积、电子束偏折与失焦问题;PointScan 技术大幅降低单位面积电荷沉积量,有效缓解上述问题,已完成实际应用验证。


    3D DRAM检测


    3D DRAM 的结构特性同样易引发电荷累积,此前检测难度较高,DirectScan 技术的应用使该类器件的精准检测成为可能。


    DRAM 阵列短路检测


    独有的可控 “充电 - 检测” 功能,可在指定位置施加电荷后跳转至目标区域采集电压衬度信号,使特定岛状节点呈现高亮状态,清晰识别与浮空相邻触点的短路问题,该功能为传统光栅扫描技术所不具备。


    四、行业落地实践与全流程应用


    自 2022 年初起,eProbe 检测系统已在多家先进逻辑芯片制造工厂落地,目前两套设备投入大批量生产,第三套设备处于产能爬坡阶段,应用场景覆盖半导体制造全流程:


    先进逻辑芯片制造


    中段制程:GAA 栅极 - 漏极短路、栅极接触孔开路、栅极外延层 / 硅化物层开路检测

    后段制程:M0 层、1X 层、2X 层系统性接触孔开路与金属布线短路检测

    背侧供电网络:电源通孔、源极 / 漏极通孔接触孔开路与短路检测

    随机逻辑电路漏电情况评估


    先进 DRAM 制造(2024-2025 年)


    外围电路:栅极 - 栅极残筋短路、栅极 - 漏极短路、字线 - 字线短路与开路检测及缺陷定位

    存储阵列:基于可控 “充电 - 检测” 技术的存储节点短路检测


    技术总结


    在半导体制程向更精密 3D 架构演进的背景下,检测技术的创新成为保障良率的关键。DirectScan 方案通过 PointScan 靶向扫描技术、设计感知分析能力与产品特异性缺陷学习功能的融合,在保留电子束检测高灵敏度的基础上,实现了检测吞吐量的量级提升,同时破解了高难度场景的检测难题。


    该技术不仅解决了先进工艺节点下缺陷“难识别、难检测” 的问题,更推动半导体检测从 “缺陷识别” 向 “工艺优化赋能” 升级,为下一代半导体制造提供了核心技术支撑和全新路径。

    " alt="DirectScan 技术解析:下一代半导体电子束检测的创新路径与应用">
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